技術文章您當前的位置：首頁 > 技術文章 > 示波器有時捕獲不到波形
示波器有時捕獲不到波形
日期：2012-08-02瀏覽：4293次
示波器有時捕獲不到波形
待決問題：示波器有時捕獲不到波形
分析處理過程：
分析處理過程：
1、 模擬雷擊試驗，分別將5KV，10KV，15KV,20KV高壓電擊被測物，產生的電流分別為20－80KA左右，通過客戶的測試控制軟件，可將示波器觸發電平設置為下降沿0.1V,0.2V,0.5V,0.6V，充電到預設高壓，有時能捕獲到周期為80us的放電波形，但有時捕獲到的只是干擾信號，或看似零信號；
2、 檢查確保所有測試連接線端，測試軟件，示波器工作正常；
3、 將觸發設置為自動，且不設置觸發電平，監測波形，目的是不加任何信號捕獲條件限制（放寬捕獲條件），以檢驗待測信號每次試驗都存在與否，再次進行試驗時如上圖所示的信號一閃而過，得證信號存在；
4、 觸發電平設置得太低，導致稍有微小電平的干擾都符合觸發條件，示波器繼而實施捕獲；
5、 因為試驗接收到的電壓為200V左右，示波器探頭使用10X，故將觸發電平設置為1－5V，問題解決，每次試驗都能捕獲到真實的雷擊信號。
2、 檢查確保所有測試連接線端，測試軟件，示波器工作正常；
3、 將觸發設置為自動，且不設置觸發電平，監測波形，目的是不加任何信號捕獲條件限制（放寬捕獲條件），以檢驗待測信號每次試驗都存在與否，再次進行試驗時如上圖所示的信號一閃而過，得證信號存在；
4、 觸發電平設置得太低，導致稍有微小電平的干擾都符合觸發條件，示波器繼而實施捕獲；
5、 因為試驗接收到的電壓為200V左右，示波器探頭使用10X，故將觸發電平設置為1－5V，問題解決，每次試驗都能捕獲到真實的雷擊信號。
下一篇：數字示波器原理及優缺點
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 賓德BINDER試驗箱
- 博勒飛Brookfield
- 紅外熱像儀
- 美國BK PRECISION
- 梅特勒METTLER
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 艾卡IKA
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標準波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
聯系我們
在線客服：
